①工艺兼容性良好,基础工艺可兼容50μm-1.2mm图形,角度垂直,刻蚀速率>8 um/min,与PR选择比>70;
②高深宽比, TSV 10μm可用PR掩膜刻蚀150μm,TSV 1μm 可用PR掩膜刻蚀15μm,角度垂直;
③小线宽极限刻蚀: Trench 0.6μm可达到深宽比>50
刻蚀均匀性:5%